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專心于半導體材料電耐腐蝕性測試方法

普賽斯儀表攜國產化高精度數字源表等半導體電性能測試設備亮相2023慕尼黑上海電子展

因素:admin 期限:2023-07-11 16:59 閱讀量:1508
        4月11日,2023慕尼黑武漢微光學展(Electronica China)在武漢祖國國際博覽中心站中心站舉行,此次會展以“協同機構去創新、智引在未來”作為主題,企聯半導體設備、無源光學元器件、智能化網聯&氫能系統汽車的、感測器器、連到器、觸點開關、整車線束電力電纜、供電、測試英文測定、彩印集成運放板、微光學研發服務保障、高級研發等機構,塑造從廠品規劃到用途出臺的橫亙企業上上下河流下游的專業化提供軟件,以機構去創新技木推動中國國微光學企業發展進步。


        普賽斯設備著力推進于半導服務業技術各種測試軟件儀一個配置的傳統化,攜全的產品系列半導服務業技術電性各種測試軟件儀主力建倉的產品及半導服務業技術領域從材料、晶圓到電子元器件各種測試軟件儀解決方法策劃方案品牌發布我局會展,引來很多工程建筑師和服務業佳賓親臨體驗度學習交流。


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        檢驗儀在測量是全部電子技術高新產業質操控的很好策略,半導體器件依照研發關鍵點各個,質操控包括前道探測、中道探測和后道檢驗儀。前道探測又稱之為為期間技藝探測,向晶圓研發出技術,檢杳光刻、刻蝕、聚酯薄膜累積、除污、CMP等晶圓研發出技術關鍵點后車輛制作因素需不需要可達設計的請求或普遍存在作用良率的缺陷,傾向生物學性探測;中道探測向為先進封裝類型,以光學材料等非使用式策略涉及重配線組成部分、凸點與硅通孔等晶圓研發出技術關鍵點的質操控;后道檢驗儀關鍵向晶圓探測(CP,Circuit Probing)和樣品檢驗儀(FT,Final Test),檢杳電源芯片能需不需要遵循請求,傾向電能探測。


        強調半導體芯片的電耐磨性參數測試,普賽斯汽車電子儀表盤廠房體現了隨時升級開發的源表類別(SMU)、激光脈沖發生器信號信號恒流源 (FIMV)、直流電低壓24v電源適配器 (FIMV、FVMI)、激光脈沖發生器信號信號恒壓源和資料爬取卡五種類產品設備,是指直流電壓源表、激光脈沖發生器信號信號源表、窄激光脈沖發生器信號信號工作功率源、一體化插卡式源表、高要求的巨大工作功率源、高要求直流電低壓24v電源適配器、資料爬取卡等國產圖片化電耐磨性參數測試汽車電子儀表盤,其穩確定高性、可信性、不一性擁有多方面的行業市場確認。、


        焦點第二代光電器件更快的轉型下公司面臨著的困惑和考驗,普賽斯設備總總監總監兼研究開發系統管理人王承與實地佳賓采取了更緊方面的探析。


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SiC/IGBT功率半導體器件測試

        對於SiC/IGBT電子元件在檢驗中長期存在的測不好、測不全、更準性還有熱效率低的原因,普賽斯儀表盤推薦1種針對國產圖片化高精準度小數源表(SMU)的檢驗策劃方案,具備著優質的檢驗專業的能力素質、更更準的自動衡量導致、極高的更準性與更完全的檢驗專業的能力素質。存在高電壓直流電壓(3500V)和大直流電壓(6000A)特征參數、μΩ級導通馬力電阻準確度自動衡量、nA級直流電壓自動衡量專業的能力素質等共同點。蘋果支持高電壓經營模式下自動衡量馬力電子元件結電阻,如搜索電阻、傳輸數據電阻、反方向傳輸數據電阻等。


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GaN功率半導體器件測試

        對氮化鎵(GaN)收錄砷化鎵(GaAs)等村料涉及的高速的電子元器件的I-V測試,普賽斯儀表盤不一樣停售的CP類別輸入單脈沖激光激光信號恒壓源可不可以便捷最快徹底解決測試疑難問題。物品極具輸入單脈沖激光激光信號工作電流最大可至10A、輸入單脈沖激光激光信號大小至少可低至100ns;能夠電流、輸入單脈沖激光激光信號兩大類電流值打印輸出方法等亮點。物品可采用于GaN的自熱作用,輸入單脈沖激光激光信號S運作測試等商務活動。

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合理實驗儀器賽車長坡厚雪,國內自主研發方式意愿很強烈。普賽斯智能儀表將總是地企業創新,總是促進推動工業群鏈左右游公司合作聯動性,以優秀的品牌與售后服務推動潛在客戶改變工業群保值增值,共赴可總是地未來是什么!



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