伴隨著III-V族新興半導體設備材質材質的便捷的發展與轉型升級采用,采取氮化鎵(GaN)、砷化鎵(GaAs)和某些許多有機物半導體設備材質的本質特征表現,要怎樣才能像直流電電檢測方法有一種,快些建立超快的I-V源和檢測方法控制?要怎樣才能依據施用窄電單脈沖和/或低占空比電單脈沖,而而不是直流電電預警來杜絕元器的自熱調節作用?要怎樣才能充分滿足既需超快電阻值輸出,又需同部高精確度度電壓電流檢測方法的采用實際需求?
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